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Reduktion von Pseudofehlern bei optischer Inspektion von Leiterplatten mittels maschinellem Lernen

NOV
16
2021
16 . NOV 2021

Lecture Hall B3 PCB & EMS Speakers Corner

13:00 -13 :30 h | Hall B3 .360

Subjects: Test and measurement, quality assurance | PCB and circuit-carrier manufacturing

Speaker: Tobias Heinrich Nagel (Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA)

Type: Lecture

Speech: German

In dem durchgeführten Projekt wurde eine Leiterplattenfertigung mit hoher Pseudofehlerrate (Bauteile werden als n.i.O. klassifiziert, obwohl diese i.O. sind) betrachtet. Diese Fehlerrate führt entweder zu hohem unnötigem Ausschuss (Wertverlust) oder zu hohen personellen Aufwänden in der manuellen Nachprüfung. Durch ein an die klassische Inspektion anschließendes maschinelles Lernverfahren zur Unterscheidung zwischen Pseudo- und Echtfehlern konnte gezeigt werden, dass der Pseudoausschuss sich um über 95 % reduzieren lässt. Das Projekt wurde gemeinsam mit der Firma PILZ durchgeführt und gefördert durch das Baden-Württembergische Ministeriums für Wirtschaft, Arbeit und Tourismus.

Tobias Heinrich Nagel

Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA

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